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比表面积测定仪
研究级超高性能全自动气体吸附仪系统
多站式全自动比表面与孔隙分析仪ASAP 2425
ASAP 2060物理吸附仪
比表面积测试仪
Porolux 1000毛细流孔径分析仪
MicroAcitve Share云端共享软件
高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪
粉体混合物分离度实验仪
3Flex三站全功能型多用气体吸附仪
全自动快速比表面与孔隙分析仪
激光粒度仪
全自动亚筛分粒径分析仪MIC SAS II
FT4粉体流变仪
数字式激光粒度仪Saturn DigiSizer II
全自动X光沉降粒度分析仪
全自动动态图像法粒度粒形分析仪
电阻法颗粒计数与粒度分析仪Elzone II 5390
全自动Χ光沉降粒度分析仪SediGraphⅢPlus
其他
全自动气体置换法真密度仪ACCUPYC II 1345
物理吸附分析仪
物理吸附仪
GeoPyc 1365全自动包裹密度分析仪
动态空隙体积分析仪DVVA II
合成/反应设备
平推流反应器FR系列
ICCS催化剂原位表征系统
磁学测量仪器
MA-1040物质磁性分析仪
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产品系列
SediGraph®Ⅲ Plus 全自动X光沉降粒度分析仪 |
SediGraph全自动Χ光沉降粒度分析仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。
久经考验的技术和可靠性
在过去的三十多年中,麦克仪器公司的SediGraph沉降粒度分析仪是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室,SediGraph凭借其**的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法,颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律,通过测量粒子在液体中的沉降速率,得出粒子粒径大小,粒径分析范围为0.1-300μm。
智能设计特色
SediGraph III Plus沉降粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易,日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品,在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。
简化泵系统,确保快速分析和易于维护
降低噪声,提供更加安静的工作环境
维护提醒装置,根据总测试量,提示用户进行定期维护
电脑控制混合室温度,提高测试可重复性
Windows操作软件,以太网连接,可进行点击式选择菜单,联网工作,打印机选择,剪切和粘贴等操作
多功能和交互式报告系统,能够提供多种类型的报告,例如颗粒沉降速度和粒度(以Phi为单位)
多项功能
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